PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀是一款專為復(fù)雜基體元素分析設(shè)計(jì)的三重四極桿電感耦合等離子體質(zhì)譜儀，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品檢測(cè)、及工業(yè)過程等領(lǐng)域，為痕量元素檢測(cè)提供解決方案。

應(yīng)用領(lǐng)域

一、半導(dǎo)體與微電子行業(yè)

冷等離子體

在分析半導(dǎo)體級(jí)鹽酸時(shí)，結(jié)合冷等離子體降低 Ar 離子化效率。

耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng)

標(biāo)配耐 HF 炬管和石英霧化器，直接分析含氟蝕刻液，無需復(fù)雜前處理，避免樣品污染風(fēng)險(xiǎn)。

二、環(huán)境監(jiān)測(cè)

從地表水到土壤沉積物，PerkinEImer NexION 2000等離子體質(zhì)譜儀憑借全基體進(jìn)樣系統(tǒng)和通量分析能力，成為環(huán)境實(shí)驗(yàn)室的工具

水體分析

直接處理高鹽廢水和海水，通過在線稀釋單元自動(dòng)調(diào)整樣品濃度，同時(shí)分析 Na和 Cd等元素，動(dòng)態(tài)范圍覆蓋廣。

土壤與沉積物

分析污染土壤時(shí)，結(jié)合 He 碰撞模式多原子干擾。

顆粒檢測(cè)功能可識(shí)別水體中的污染物。

三、材料科學(xué)與技術(shù)

顆粒表征

基于單顆粒 ICP-MS 技術(shù)，可同時(shí)測(cè)定顆粒的成分、尺寸及團(tuán)聚狀態(tài)。

在石墨烯研究中，通過檢測(cè)殘留金屬催化劑的含量，優(yōu)化制備工藝以提升材料純度。

合金與涂層分析

分析高溫合金時(shí)，同步測(cè)定主量元素和痕量雜質(zhì)，避免多次稀釋和重復(fù)進(jìn)樣。

四、食品安全

食品添加劑與污染物

檢測(cè)乳制品中的稀土元素時(shí)，啟用通用池的 O?反應(yīng)模式，將Ca,O?轉(zhuǎn)化為 CaO?，避免對(duì)Fe 的誤判。

分析奶粉中的碘含量時(shí)，采用 H?反應(yīng)去除Ar，Ar?對(duì)Se 的干擾。

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